聯絡我時↟☁·，請告知來自化工儀器網
4006306902
4006306902
當前位置╃▩₪✘•：首頁 > 產品中心 > x射線熒光光譜儀 > 波長色散型X熒光光譜儀（WDXRF）
相關文章
ARTICLES
馬爾文帕納科2830 ZT 晶圓分析儀提供了用於測量薄膜厚度和成分的功能✘╃·₪。 2830 ZT 圓晶分析儀專門針對半導體和資料儲存行業而設計↟☁·，該儀器可為多種晶片（厚達 300 mm）測定層結構◕││☁╃、厚度◕││☁╃、摻雜度和表面均勻性✘╃·₪。
微信掃一掃
訪問手機端