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  • 馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款整合型能量色散型 XRF 分析器◕•▩↟,其包括光譜儀◕·│✘☁、內建計算機◕·│✘☁、觸控式螢幕和分析軟體☁₪•。 Epsilon 1 採用激發和檢測技術的新成果◕•▩↟,是低成本小型臺式XRF儀器☁₪•。

    更新日期·↟·│•:2022-12-15
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  • X射線熒光光譜儀 (XRF) 能夠對多種材料進行元素分析◕•▩↟,包括固體◕·│✘☁、液體和疏鬆粉末☁₪•。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發應用需求而設計◕•▩↟,其高品質的設計和功能◕•▩↟,可對從鈹到鋂等多種元素進行精度範圍從百萬分之一以下到百分之一的分析☁₪•。

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  • 由於時間關鍵型過程控制或執行樣品高處理量◕•▩↟,您是否需要在幾秒鐘內對化學成分進行無損分析·╃╃? 同時測量多達 28 種元素◕•▩↟,濃度範圍為從 ppm 至 100%◕•▩↟,馬爾文帕納科多道同時式波長色散型X射線熒光光譜儀Axios FAST 是理想的解決方案☁₪•。 準確而強大的分析◕•▩↟,即使經驗不足的員工也可方便地操作◕•▩↟,同時正常執行時間長◕•▩↟,擁有成本低☁₪•。

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  • 馬爾文帕納科推出的臺式XRF Epsilon 4 臺式X射線熒光光譜儀將新的激發和檢測技術於智慧設計相結合◕•▩↟,其分析更能更接近於功率更高的落地式光譜儀☁₪•。多重最佳化的 X 射線輸出和探測系統確保您擁有Z傑出的系統性能☁₪•。

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  • 馬爾文帕納科2830 ZT 晶圓分析儀提供了用於測量薄膜厚度和成分的功能☁₪•。 2830 ZT 圓晶分析儀專門針對半導體和資料儲存行業而設計◕•▩↟,該儀器可為多種晶片(厚達 300 mm)測定層結構◕·│✘☁、厚度◕·│✘☁、摻雜度和表面均勻性☁₪•。

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